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2651A儀器源測量單元

2651A儀器源測量單元

型號:2651A

產(chǎn)品時間:2023-11-10

簡要描述:

2651A儀器源測量單元專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導體元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設(shè)計。

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詳細介紹

2651A儀器源測量單元專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導體元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設(shè)計。 它們提供*的功率、精度、速度、靈活性,且容易用于提高研發(fā)、生產(chǎn)測試和可靠性環(huán)境中的效率。 有兩種儀器可用,提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流功率。

特點

優(yōu)勢

高度靈活的四象限電壓和電流源/負載,與高精度電壓表和電流表相耦合提供同類最JIA的性能,具有 6½ 位分辨率。
源或阱 (2651A) 脈沖功率高達 2000W(±40V、±50A),或直流電源高達 200W(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A);輕松連接兩個器件(串聯(lián)或并聯(lián))創(chuàng)建高達 ±100A 或 ±80V 的解決方案支持功率半導體、HBLED、光器件、太陽能電池以及 GaN、SiC 及其他復合材料和器件的檢定/測試。 應用范圍包括半導體接點溫度檢定;高速、高精度數(shù)字化;電遷移研究;以及高電流、高功率設(shè)備測試。
源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達 180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA)提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓,包括 GaN、SiC 及其他復合材料和器件、高達 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定。
內(nèi)置基于網(wǎng)絡(luò)瀏覽器的軟件支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從全球任何地方進行遠程控制。
有數(shù)字化或積分測量模式可供選擇支持準確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為,包括快速變化的熱效應。
TSP(測試腳本處理)技術(shù)可以與 2657A 型與 2600B 系列型號輕松地進行系統(tǒng)集成。
TSP-Link 通道擴展總線支持將多臺 2651A 和 2657A 與選定的 2600B 系列 SMU 儀器相結(jié)合,形成一個具有多達 32 個通道的集成系統(tǒng)。
兼容于 8010 型高功率設(shè)備測試夾具和 8020 型高功率接口面板為封裝部件或晶片級高功率設(shè)備測試提供安全而方便的連接。
免費的測試腳本構(gòu)建器軟件工具幫助您創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲 TSP 測試腳本。
選配的 ACS 基礎(chǔ)半導體元器件檢定軟件開發(fā)、質(zhì)量檢驗或故障分析期間執(zhí)行封裝部件檢定時,限度地提高工作效率。

2651A儀器源測量單元

 


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