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2600-PCT-4B半導體測試系統

2600-PCT-4B半導體測試系統

型號:2600-PCT-4B

產品時間:2023-11-10

簡要描述:

2600-PCT-4B半導體測試系統開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。

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2600-PCT-4B半導體測試系統

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為了實現這種性能,吉時利公司已經開發(fā)出一系列高精密電纜,實現與吉時利8010型高功率器件測試夾具或8020型高功率接口面板的連接,前者用于封裝部件測試,后者用于晶圓級測試。對于高電壓通道,定制三軸電纜可以提供保護路徑,支持快速穩(wěn)定和超低電流,包括在3kV全高壓情況下。對于高電流通道,低電感電纜可以提供快速上升時間脈沖,使器件自熱效應達到最小。

1. 用于提取參數的測試方法。僅列出典型MOSFET,其他器件使用的方法類似。

2. 2657A型高功率系統數字源表儀器。

3. 2636B型數字源表或4210型源測量單元(SMU)儀器。

4. 2651A型高功率系統數字源表儀器或者可選擇雙2651A型高功率系統數字源表儀器。

5. 在3000V電壓時電流20mA,在1500V電壓時電流120mA。

6. 典型提取能力(示例: 1mA/1V ~ 1A/1mV)。

7. 典型提取能力(示例: 1mV/10A)。

8. 使用PCT-CVU和CVU-3K-KIT時,±200V直流 (±3kV)偏置。

2600-PCT-4B半導體測試系統

6514 100aA - 20mA 10µV - 200V 10µV - 200V 10m? - 200G? 10fC - 20μC - - US $6,820

6517B 100aA - 20mA 10µV - 200V 10µV - 200V 100? - 10P? 10fC - 2μC 0 - ±1000V - US $10,300

6430 10aA - 100mA 1µV - 200V 1µV - 200V 1µ? - >20T? - 0 - ±200V - US $19,800

6220/2182A 1nV-100V 1nV-100V 10n? - 100M? DC:±10fA – 100mA RS-232、GPIB RS-232、GPIB

6221/2182A 1nV – 100V 1nV – 100V 10n? - 100M? "DC:±10fA – 100mA 

AC:4pAp-p – 200mAp-p" RS-232、GPIB、LAN

DMM6500 15 "100 nV 

10 pA 

1 µOhm" "1 M 采樣/秒 

16 位" US $1,250

DMM7510-NFP 7.5 GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) 在線購買 US $3,970

DMM7510-NFP-RACK 7.5 GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) 在線購買 US $3,970

DMM7510 7.5 GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) 在線購買 US $4,110

DMM7510-RACK 7.5 GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) 在線購買 US $4,110

2110-100 5.5 USB (TMC) 在線購買 US $723

2110-120 5.5 USB (TMC) 在線購買 US $723

 


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