KeithleyS535參數(shù)化測試系統(tǒng)
S535 特點(diǎn)
- 在多站點(diǎn)并行或連續(xù)運(yùn)行中自動(dòng)執(zhí)行所有晶片級(jí)直流參數(shù)測試。觸摸一次探頭測試兩個(gè)或四個(gè)站點(diǎn)。
- 多達(dá) 64 根測試針:并行測試四個(gè)站點(diǎn),每個(gè)站點(diǎn) 16 根針;并行測試兩個(gè)站點(diǎn),每個(gè)站點(diǎn) 32 根針;連續(xù)測試一個(gè)站點(diǎn),64 根針
- 高達(dá) 100 W 運(yùn)行:1 A 時(shí) 100 V;100 mA 時(shí) 200 V
- 在高速、多針、*自動(dòng)的測試環(huán)境中 1 fA、10 nV 分辨率
- 基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件兼容原有 Keithley 測試系統(tǒng)、支持輕松進(jìn)行測試開發(fā)和快速執(zhí)行。
- Keithley S530 型探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施也支持原有的 S400 應(yīng)用KeithleyS535參數(shù)化測試系統(tǒng)
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