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飛機在強對流天氣飛行時，容易受到雷電的直接附著作用，產生高溫、高壓和強電磁力，對飛機造成燃燒、溶蝕、爆炸、結構畸變和強度降低等效應。我司自主研發(fā)的雷電直接效應測試系統(tǒng)是一套非常復雜的脈沖電源測試系統(tǒng)，主要用于系統(tǒng)級雷電直接效應試驗以及對部件材料等進行雷電試驗，*符合GJB1389A，GJB3567等國軍標標準，同時也美國軍標MIL-STD-464C、航空系統(tǒng)SAE ARP5412、DO160 section23等飛機雷電試驗標準要求?？蓱糜陲w機整機、航空航天材料、艦船、DAO彈、軍用車輛、雷達等設備設施。
本套雷電直接效應試驗系統(tǒng)包括高電壓附著點分區(qū)試驗系統(tǒng)和大電流物理損毀試驗系統(tǒng)。高電壓附著點分區(qū)試驗系統(tǒng)可模擬測試飛機等設備在遭受雷擊時，在飛機表面不同區(qū)域可能被雷電襲擊的概率，找到容易被雷電襲擊的附著點。大電流物理損毀試驗系統(tǒng)用來模擬飛機在遭受雷擊時，其附著點遭受大電流時產生的高溫、強電動力對飛機結構等部分的破壞效應。

雷電直接效應試驗流程：

本套系統(tǒng)可根據(jù)用戶實際測試需求進行按需配置，可提供全套的測試解決方案

高電壓附著點分區(qū)試驗系統(tǒng)LVG 3000

波形參數(shù)的定義:

根據(jù)MIL-STD-464C及SAE ARP5412等標準規(guī)定，測試波形主要有A、B、C、D四個電壓波形，如下圖所示。

圖 飛機高電壓試驗波形

具體要求：

A波形，電壓波形A為一個上升斜率為1000（-0+50%）kV/μs的波形，其幅值的增加直到試驗件擊穿或者閃絡終止，并迅速歸零，如果試驗件沒有閃絡，則波形的跌落沒有規(guī)定。

B波形，電壓波形B為一個上升斜率為1.2μs（±20%）、持續(xù)時間為50μs（±20%）的開路電壓波形。

C波形，電壓波形C為在2us處截斷的電壓波形，對于上升時間和峰值沒有特殊要求。

高電壓附著點分區(qū)試驗系統(tǒng)LVG 3000
D波形，電壓波形D為一個上升斜率為50-250μs、持續(xù)時間大于2000μs的開路電壓波形。該波形用于試驗件的流光特性分析，當使用該波形進行雷擊附著區(qū)概率分析時，得出的結論要比實際高（見GJB3567 5.1.1.3）

飛機雷電高壓附著點分區(qū)試驗示意圖：