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400-617-8668
型號:ES612-20K
產(chǎn)品時間:2023-11-13
簡要描述:
ES612 ESD 測試儀 (HBM, HMM, MM)ES612 ESD測試儀是2管腳測試儀,為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級ESD測試而設(shè)計。該測試儀的波形可以符合HBM,HMM和MM 的相關(guān)ESD標(biāo)準(zhǔn)。測試儀上的DC特性測試端口,可搭配數(shù)字源表等DC測試設(shè)備,較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測試儀可搭配多管腳自動化測試儀進(jìn)行應(yīng)用擴(kuò)展,也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。
ES612 ESD測試儀是一款2管腳測試儀,為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級ESD測試而設(shè)計。該測試儀的波形可以符合HBM,HMM和MM 的相關(guān)ESD標(biāo)準(zhǔn)。測試儀上的DC特性測試端口,可搭配數(shù)字源表等DC測試設(shè)備,較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測試儀可搭配多管腳自動化測試儀進(jìn)行應(yīng)用擴(kuò)展,也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。
ES612 ESD測試儀的脈沖源設(shè)計和注入方法能夠確保被測器件端的波形表現(xiàn)。該設(shè)備內(nèi)置的電流探頭自動抓取脈沖注入時的波形,為數(shù)據(jù)分析提供可靠依據(jù)。此外,電壓波形也可通過選配的電壓探頭連接示波器進(jìn)行抓取。由于該設(shè)備還可擴(kuò)展進(jìn)行ESD波形注入前后的DC特性檢測,因此可進(jìn)行ESD事件的損傷判定。
低寄生參數(shù),高質(zhì)量脈沖
可定制,可擴(kuò)展
可搭配探針臺進(jìn)行晶圓級測試
外置可選配的自動故障檢測模塊
觸摸控制面板
可固件升級
可選配的自動化脈沖注入和故障測量軟件
可選配的脈沖IV和DC IV表征功能
ES612 ESD測試儀是一款2管腳測試儀,為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級ESD測試而設(shè)計。該測試儀的波形可以符合HBM,HMM和MM 的相關(guān)ESD標(biāo)準(zhǔn)。測試儀上的DC特性測試端口,可搭配數(shù)字源表等DC測試設(shè)備,較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測試儀可搭配多管腳自動化測試儀進(jìn)行應(yīng)用擴(kuò)展,也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。
ES612 ESD測試儀的脈沖源設(shè)計和注入方法能夠確保被測器件端的波形表現(xiàn)。該設(shè)備內(nèi)置的電流探頭自動抓取脈沖注入時的波形,為數(shù)據(jù)分析提供可靠依據(jù)。此外,電壓波形也可通過選配的電壓探頭連接示波器進(jìn)行抓取。由于該設(shè)備還可擴(kuò)展進(jìn)行ESD波形注入前后的DC特性檢測,因此可進(jìn)行ESD事件的損傷判定。
ES612 控制主機(jī)
參數(shù) | ES612-2K | ES612-8K | ES612-12K | ES612-20K | 單位 |
輸出電壓 | ± 10 ~ 2000 | ± 10 ~ 8000 | ± 10 ~ 12000 | ± 10 ~ 20000 | V |
小輸出電壓步長 | 1V (500V以內(nèi))
10V (2 kV以內(nèi)) | 1V (500V以內(nèi))
10V (8 kV以內(nèi)) | 1V (500V以內(nèi))
10V (12 kV以內(nèi)) | 1V (500V以內(nèi))
10V (20 kV以內(nèi)) | V,
kV |
輸出電壓精度 | ± 1 % 或 ± 5 V | % | |||
尺寸 | 347 X 300 X 145 | mm | |||
重量 | 5 | 6 | 6 | 7 | kg |
電壓、電流測量 | 電壓、電流測量無源探頭 | ||||
支持的示波器 | Keysight, Tektronix,Lecory主流型號示波器 | ||||
支持的SMU | Keithley 24xx/26xx 系列 |
外置人體模型(HBM )波形發(fā)生模塊
參數(shù) | HBM-2K | HBM -8K | HBM -12K | HBM -20K | 單位 |
輸出電壓 | ± 10 ~ 2000 | ± 10 ~ 8000 | ± 10 ~ 12000 | ± 10 ~ 20000 | V |
放電RC值 | C: 100 pF ± 10%, R: 1.5k? ± 1% | ||||
短路峰值電流Ips | 0.67A ± 10 % per kV | ns | |||
短負(fù)荷上升時間Trs | 2 < Trs < 10 | ns | |||
短負(fù)荷衰減時間Tds | 1300 < Tds < 1700 | ns | |||
短負(fù)荷振鈴Irs | < 15% of Ips | ||||
500Ω負(fù)載峰值電流Ipr | Ipr/Ips ≥ 63% | ||||
500Ω負(fù)載上升時間Trr | 5 < Trr < 25 | ns |
外置人體-金屬模型(HMM )波形發(fā)生模塊
(根據(jù)ANSI/ESD SP5.6-2009)
參數(shù) | HMM-24K | 單位 | 備注 |
HMM峰值電流 | 90 | A | 3.75 A per 1 kV ≤ ± 10 %
IEC 61000-4-2 (R=330?, C=150pF) |
HMM電流@ 30 ns | 48 | A | ≤ ± 10 % (優(yōu)于IEC標(biāo)準(zhǔn)的 ±30% ) |
HMM電流@ 60 ns | 24 | A | ≤ ± 10 % (優(yōu)于IEC標(biāo)準(zhǔn)的 ±30% ) |
編號 | 型號 | 描述 |
ES612 ESD測試儀 | ||
1.1 | ES612 | ES612 ESD 測試儀控制主機(jī), 大輸出電壓 8 kV / 20 kV,
RS232 SCPI 通訊端口 |
1.2 | ES612-HBM | 人體模型波形發(fā)生模塊(2管腳) |
1.3 | ES612-HMM | 人體-金屬模型波形發(fā)生模塊(2管腳) |
1.4 | ES612-MM | 機(jī)器模型波形發(fā)生模塊(2管腳) |
其他配件選項 | ||
2.1 | ES62x-PC-HBM | 電腦(預(yù)裝脈沖及失效等級自動檢測軟件) |
2.2 | KSMU2400 | 數(shù)字源表, 200V, 1A, 20W, 單通道(用于被測器件DC損傷檢測) |
2.3 | ES62X-CMPS | 簡易手動探針臺 |
2.4 | ES62X-XYZM-TIM | XYZ 微動探針座 – XYZ 行程500 mils,步進(jìn)0.01mm |
2.5 | ES62X-XYZM-PAA | PCB 探針臂套件,配備電壓測量探頭 |
2.6 | ES62X-XYZM-GAA | 接地探針臂套件 |
2.7 | HBM-TC0.3 | 0.3 mm Pitch Test Clip |
2.8 | HBM-TC2.5 | 2.54 mm Pitch Test Clip |
2.9 | ES62X-XYZM-PP048 | 048 型號彈簧探針 |
2.10 | ES62X-XYZM-PP075 | 075 型號彈簧探針 |
2.11 | ES62X-XYZM-TN1 | 鎢鋼針 |
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